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透射电子显微镜
操作规程
 


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型号规格   JEM-1230 管理员   徐颖,王华
英文名字   Transmission Electron Microscope 联系电话   0571-88982409
生产厂家   日本JEOL公司 E-mail   [email protected]
放置地点   紫金港校区农生环大楼B座128-11 仪器状态   运行中
启用日期   2003年12月 浏览次数   11608
收费标准
技术参数
1. 高反差物镜极靴;
2. 晶格分辨率:0.2 nm;
3. 放大倍数:50~600,000倍;
4. 加速电压:40~120 kV。
主要附件:
1. 5载网侧插式样品杆;
2. EMSIS Morada G3 4.8K×3.2K 侧装式CCD。
主要功能
该设备主要用于动植物细胞超微结构观察,病毒、细菌等微生物形态观察,高分子材料和纳米材料微结构观察。图象反差大,放大倍率范围宽;马达驱动台便于样品位置记忆和复位,计算机控制合轴、观察条件设置及数据显示,数字图像采集和存储;120 kV高加速电压适合薄膜材料、冷冻超薄切片等厚样品观察。
应用范围  
广泛适用于生命科学、环境科学、农学、医学、药学、无机材料、高分子材料、化学化工等学科领域。