型号规格

SU-8010

管理员

戎念杭、任燕东

英文名字

Field Emission Scanning Electron Microscope

联系电话

88982409

生产厂家

日本日立公司

E-mail

[email protected]

放置地点

紫金港校区农生环大楼B座128-6

仪器状态

运行中

启用日期

2014年6月

浏览次数

1614

收费标准

技术参数

1. 冷场发射型电子枪；
2. 分辨率：优于1.0 nm/15 kV，1.3 nm/1 kV；
3. 加速电压：0.1~30 kV，0.1 kV/步；
4. 放大倍数：20~1,000,000倍，连续可调；
5. 5轴马达驱动，最大样品直径≥100 mm；
6. 高低位二次电子检测器；
7. 扫描透射电子STEM检测器；
8. 涡轮分子泵和离子泵无油真空系统。
主要附件：Oxford Aztec X-Max 80电制冷能谱仪；元素分析范围Be4-Cf9 MnKα分辨率优于127 eV。

主要功能

该设备具有超高分辨率，同时具有低电压下的高分辨率。能观察各种固态样品表面形貌二次电子像、背反射电子像及扫描透射电子像，同时进行样品表层的微区点、线、面元素定性、半定量及定量分析，具有形貌与化学组分综合分析能力，全计算机菜单控制，数字图象采集。适合于生物材料、金属、无机材料、高分子材料和纳米材料表面超微结构观察分析。

应用范围

应用学科包括生命科学、环境科学、食品科学、农学、生物医学、药学以及金属材料、高分子材料、纳米材料、化学化工、地质矿产等。